Standards
[CURRENT]
BS EN 60749-35
BS EN 60749-35
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Acoustic microscopy for plastic encapsulated electronic components
Title (German)
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Pruefverfahren - Ultraschallmikroskopie fuer kunststoffverkappte Bauelemente der Elektronik