Standards
[CURRENT]
SN EN 62373
SN EN 62373
Bias-temperature stability test for metal-oxide, semiconductor, field-effect transistors (MOSFET)
Title (German)
Stabilitätsprüfung unter Temperatur-Spannungs-Beanspruchung für Feldeffekttransistoren mit Metalloxid-Halbleiter (MOSFET)