Standards
[CURRENT]
NF C96-022-25
; NF EN 60749-25:2003-12-01
NF C96-022-25
; NF EN 60749-25:2003-12-01
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 25: temperature cycling
Title (German)
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 25: zyklische Temperaturwechsel