Standards
[CURRENT]
DIN EN 60749-36
DIN EN 60749-36
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 36: Acceleration, steady state (IEC 60749-36:2003); German version EN 60749-36:2003
Title (German)
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 36: Gleichmäßiges Beschleunigen (IEC 60749-36:2003); Deutsche Fassung EN 60749-36:2003
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Responsible national committee
DKE/K 631 - Halbleiterbauelemente