Standards
[CURRENT]
NF C96-022-2
; NF EN 60749-2:2002-12-01
NF C96-022-2
; NF EN 60749-2:2002-12-01
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 2: low air pressure
Title (German)
Halbleiterbauelemente - Mechanische und Klimatische Prüfverfahren - Teil 2: Niedriger Luftdruck