Standards
[CURRENT]
ASTM F 1192
ASTM F 1192
Standard Guide for the Measurement of Single Event Phenomena (SEP) Induced by Heavy Ion Irradiation of Semiconductor Devices
Title (German)
Richtlinie für die Messung von Einzelereigniserscheinungen, die durch Schwerionenstrahlung von Halbleitergeräten induziert wurden