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SN EN IEC 60749-37
SN EN IEC 60749-37
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 37: Board level drop test method using an accelerometer
Title (German)
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 37: Prüfverfahren Fall der Leiterplatte unter Verwendung eines Beschleunigungs-Messgerätes