Standards
[CURRENT]
NF C96-287-2
; NF EN IEC 63287-2:2023-05-12
NF C96-287-2
; NF EN IEC 63287-2:2023-05-12
Semiconductor devices - Guidelines for reliability qualification plans - Part 2: concept of mission profile
Title (German)
Halbleiterbauelemente - Richtlinien für Zuverlässigkeitsqualifizierungspläne - Teil 2: Konzept des Einsatzprofils