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[CURRENT]
OVE EN IEC 60749-41
OVE EN IEC 60749-41
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 41: Standard reliability testing methods of non-volatile memory devices ((IEC 60749-41:2020) EN IEC 60749-41:2020) (german version)
Title (German)
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 41: Standardisierte Prüfverfahren für die Zuverlässigkeit von nichtflüchtigen Speicher-Bauelementen ((IEC 60749-41:2020) EN IEC 60749-41:2020) (deutsche Fassung)