Draft standard
PR NF C96-284
; PR NF EN IEC 63284
PR NF C96-284
; PR NF EN IEC 63284
Semiconductor devices - Reliability test method by inductive load switching for gallium nitride transistors
Title (German)
Halbleiterbauelemente - Zuverlässigkeits-Prüfverfahren durch induktives Lastschalten für Galliumnitrid-Transistoren