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NF C96-022-30
; NF EN IEC 60749-30:2020-09-25
NF C96-022-30
; NF EN IEC 60749-30:2020-09-25
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 30: preconditioning of non-hermetic surface mount devices prior to reliability testing
Title (German)
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 30: Behandlung nicht hermetisch verkappter oberflächenmontierbarer Bauelemente vor Zuverlässigkeitsprüfungen
