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BS EN IEC 60749-30
BS EN IEC 60749-30
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Preconditioning of non-hermetic surface mount devices prior to reliability testing
Title (German)
Halbleiterbauelemente. Mechanische und klimatische Prüfverfahren Behandlung nicht hermetisch verkappter oberflächenmontierbarer Bauelemente vor Zuverlässigkeitsprüfungen
