Standards
[CURRENT]
NF C96-022-5
; NF EN 60749-5:2017-07-07
NF C96-022-5
; NF EN 60749-5:2017-07-07
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: steady-state temperature humidity bias life test
Title (German)
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 5: Lebensdauerprüfung bei konstanter Temperatur und Feuchte unter elektrischer Beanspruchung
