Standards
[CURRENT]
NF C96-022-9
; NF EN 60749-9:2017-06-16
NF C96-022-9
; NF EN 60749-9:2017-06-16
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 9: permanence of marking
Title (German)
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 9: Beständigkeit der Kennzeichnung