Standards
[CURRENT]
NF C96-022-3
; NF EN 60749-3:2017-06-16
NF C96-022-3
; NF EN 60749-3:2017-06-16
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 3: external visual examination
Title (German)
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 3: Äussere Sichtprüfung