Standards
[CURRENT]
OVE EN 60749-3
OVE EN 60749-3
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 3: External visual examination (IEC 60749-3:2017) (german version)
Title (German)
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 3: Äußere Sichtprüfung (IEC 60749-3:2017) (deutsche Fassung)