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[CURRENT]
BS EN 62047-16
BS EN 62047-16
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices. Test methods for determining residual stresses of MEMS films Wafer curvature and cantilever beam deflection methods
Title (German)
Halbleiterbauelemente. Bauelemente der Mikrosystemtechnik. Messverfahren zur Ermittlung der Eigenspannungen in Dünnschichten von MEMSBauteilen. Substratkrümmungs- und Biegebalken-Verfahren