Standards
[CURRENT]
NF C96-022-40
; NF EN 60749-40:2012-02-01
NF C96-022-40
; NF EN 60749-40:2012-02-01
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 40: board level drop test method using a strain gauge
Title (German)
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Prüfverfahren zum Fall einer Leiterplatte unter Verwendung von Dehnungsmessstreifen