Standards
[CURRENT]
OEVE/OENORM EN 62415
OEVE/OENORM EN 62415
Semiconductor devices - Constant current electromigration test (IEC 62415:2010) (german version)
Title (German)
Halbleiterbauelemente - Konstantstrom-Prüfverfahren zur Elektromigration (IEC 62415:2010) (deutsche Fassung)