Standards
[CURRENT]
OEVE/OENORM EN 62418
OEVE/OENORM EN 62418
Semiconductor devices - Metallization stress void test (IEC 62418:2010) (german version)
Title (German)
Halbleiterbauelemente - Prüfverfahren zur Metallisierungs-Stressmigration (IEC 62418:2010) (deutsche Fassung)