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[CURRENT]
SN EN 60749-33
SN EN 60749-33
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods. Part 33: Accelerated moisture resistance - Unbiased autoclave
Title (German)
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren. Teil 33: Beschleunigte Verfahren für Feuchtebeständigkeit - Autoclave ohne elektrische Beanspruchung