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[CURRENT]
NF X21-064
; NF ISO 23830:2009-02-01
NF X21-064
; NF ISO 23830:2009-02-01
Surface chemical analysis - Secondary-ion mass spectrometry - Repeatability and constancy of the relative-intensity scale in static secondary-ion mass spectrometry
Title (German)
Chemische Analytik an Oberflächen - Sekundärionenmassenspektromtrie - Wiederholpräzision und Konstanz der relativen Intensitätsskala bei der statischen Sekundärionenmassenspektromtrie