Standards
[CURRENT]
NF C96-022-37
; NF EN 60749-37:2008-07-01
NF C96-022-37
; NF EN 60749-37:2008-07-01
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 37: board level drop test method using an accelerometer
Title (German)
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 37: Prüfverfahren Fall der Leiterplatte unter Verwendung eines Beschleunigungs-Messgerätes