Standard
[PUBLISHED]
DIN 50450-2
DIN 50450-2
Testing of materials for semiconductor technology; determination of impurities in carrier gases and doping gases; determination of oxygen impurity in N<sub>2</sub>, Ar, He, Ne and H<sub>2</sub> by using a galvanic cell
Title (German)
Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnologie; Bestimmung von Verunreinigungen in Träger- und Dotiergasen; Bestimmung der Sauerstoffverunreinigung in Stickstoff, Argon, Helium, Neon und Wasserstoff mittels einer galvanischen Meßzelle
Brief description
The standard should define the test method for determining the content of O2 in the carrier and doping gases N2, Ar, He, Ne and H2.