NA 022
DKE German Commission for Electrical, Electronic & Information Technologies of DIN and VDE
Standards
[CURRENT]
DIN EN 62373
DIN EN 62373
Bias-temperature stability test for metal-oxide, semiconductor, field-effect transistors (MOSFET) (IEC 62373:2006); German version EN 62373:2006
Title (German)
Stabilitätsprüfung unter Temperatur-Spannungs-Beanspruchung für Feldeffekttransistoren mit Metalloxid-Halbleiter (MOSFET) (IEC 62373:2006); Deutsche Fassung EN 62373:2006
Responsible national committee
DKE/K 631 - Halbleiterbauelemente