NA 022
DKE German Commission for Electrical, Electronic & Information Technologies of DIN and VDE
Standards
[Withdrawn]
DIN EN 60749-19
DIN EN 60749-19
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 19: Die shear strength (IEC 60749-19:2003); German version EN 60749-19:2003 + Corrigendum 2003-06
Title (German)
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 19: Prüfung der Chip-Bondfestigkeit (IEC 60749-19:2003); Deutsche Fassung EN 60749-19:2003 + Corrigendum 2003-06
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Responsible national committee
DKE/K 631 - Halbleiterbauelemente