NA 022
DKE German Commission for Electrical, Electronic & Information Technologies of DIN and VDE
Standards
[Withdrawn]
DIN EN 60749-6
DIN EN 60749-6
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 6: Storage at high temperature (IEC 60749-6:2002); German version EN 60749-6:2003
Title (German)
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 6: Lagerung bei hoher Temperatur (IEC 60749-6:2002); Deutsche Fassung EN 60749-6:2003
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Responsible national committee
DKE/K 631 - Halbleiterbauelemente