NA 022
DKE German Commission for Electrical, Electronic & Information Technologies of DIN and VDE
Standards
[New]
DIN EN IEC 60749-28
; VDE 0884-749-28:2024-12
DIN EN IEC 60749-28
; VDE 0884-749-28:2024-12
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 28: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Charged device model (CDM) - device level (IEC 60749-28:2022); German version EN IEC 60749-28:2022
Title (German)
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 28: Prüfung der Empfindlichkeit gegen elektrostatische Entladungen (ESD) - Charged Device Model (CDM) - Device Level (IEC 60749-28:2022); Deutsche Fassung EN IEC 60749-28:2022