NA 022
DKE German Commission for Electrical, Electronic & Information Technologies of DIN and VDE
Standards
[CURRENT]
DIN EN IEC 60749-10
DIN EN IEC 60749-10
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 10: Mechanical shock - Device and subassembly (IEC 60749-10:2022); German version EN IEC 60749-10:2022
Title (German)
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 10: Mechanischer Schock - Bauelemente und Unterbaugruppe (IEC 60749-10:2022); Deutsche Fassung EN IEC 60749-10:2022