Projekt

(Future IEC 60747-14-5): Discrete semiconductor devices - Part 14-5: Semiconductor sensors - PN-junction semiconductor temperature sensor

Beginn

2005-12-02

Geplante Dokumentnummer

IEC 47E/293/NP

Zuständiges nationales Arbeitsgremium

DKE/UK 631.1 - Einzel-Halbleiterbauelemente  

Zuständiges internationales Arbeitsgremium

IEC/SC 47E - Einzel-Halbleiterbauelemente  

Ihr Kontakt

Elena Rongen

Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

Tel.: +49 69 6308-429

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