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Projekt

Complete update of IEC 60749. Addition of test methods (together with proposed number): IEC 60749-20-1, IEC 60749-35, IEC 60749-37, IEC 60749-38, IEC 60749-39

Beginn

2004-01-16

Geplante Dokumentnummer

IEC 47/1744/NP

Zuständiges nationales Arbeitsgremium

DKE/K 631 - Halbleiterbauelemente  

Zuständiges internationales Arbeitsgremium

IEC/TC 47 - Halbleiterbauelemente  

Ihr Kontakt

Elena Rongen

Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

Tel.: +49 69 6308-429

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