Projekt
Proposal of The Netherlands NC: Metalization stress void inspection
Beginn
1999-07-16
Geplante Dokumentnummer
IEC 47/1435/NP
Zuständiges nationales Arbeitsgremium
DKE/K 631 - Halbleiterbauelemente
1999-07-16
IEC 47/1435/NP
DKE/K 631 - Halbleiterbauelemente