Integrierte Schaltungen - Messung der elektromagnetischen Störfestigkeit - Teil 1: Allgemeine Bedingungen und Begriffe
Kurzreferat
Dieser Teil von IEC 62132 liefert allgemeine Informationen und Definitionen zur Messung der elektromagnetischen Störfestigkeit integrierter Schaltungen (IC, en: integrated circuit) gegen leitungsgeführte und eingestrahlte Störgrößen. Dieser Teil gibt auch eine Beschreibung der Messbedingungen, der Messeinrichtung und des spezifischen Mess-Aufbaus sowie der Messverfahren und des Inhalts der Messprotokolle. In Anhang A sind Tabellen zum Vergleich der Messverfahren angegeben, um die Wahl des entsprechenden Messver-fahrens zu unterstützen. In diesem Dokument werden allgemeine Bedingungen beschrieben, die erforderlich sind, um gleichbleibende quantitative Messungen der Störfestigkeit von IC zu erhalten. Zu erwartende kritische und die Messergebnisse beeinflussende Parameter werden in diesem Dokument beschrieben. Abweichungen von diesem Dokument sind im entsprechenden Messprotokoll zu beschreiben. Die Messergebnisse können sowohl für Vergleichs- als auch andere Zwecke verwendet werden. Die Messungen der eingespeisten Spannungen und Ströme – in Verbindung mit dem Antwortverhalten der unter geregelten Bedingungen geprüften IC – liefern für einen bestimmten Anwendungsfall Informationen über die mögliche Störfestigkeit eines IC gegen leitungsgeführte und eingestrahlte HF-Störgrößen.
Beginn
2024-12-18
Geplante Dokumentnummer
DIN EN IEC 62132-1
Projektnummer
02232801
