Kurzreferat

Dieser Teil von IEC 61967 enthält allgemeine Informationen und Definitionen zur Messung sowohl leitungsgeführter als auch abgestrahlter elektromagnetischer Störungen von integrierten Schaltungen. Weiterhin werden Messbedingungen, Prüfeinrichtungen, Prüfaufbau und Prüfverfahren sowie der Inhalt des Prüfberichts beschrieben. Im Anhang A sind Vergleichstabellen zu Prüfverfahren enthalten, um die Auswahl des (der) geeigneten Messverfahren(s) zu unterstützen. Die Zielstellung dieses Dokuments ist es, allgemeine Bedingungen zu beschreiben, um eine einheitliche Prüfumgebung festzulegen und ein quantitatives Maß für die hochfrequenten (HF-)Störungen von integrierten Schaltungen (IC; en: integrated circuits) zu erhalten. Weiterhin werden kritische Parameter beschrieben, von denen erwartet wird, dass sie die Prüfergebnisse beeinflussen. Abweichungen vom vorliegenden Dokument müssen ausdrücklich im einzelnen Prüfbericht angegeben werden. Die Messergebnisse können zum Ver-gleich oder für andere Zwecke herangezogen werden. Messung der Spannung und des Stromes von leitungsgeführten HF-Aussendungen oder abgestrahlten HF-Störungen, die von einer integrierten Schaltung unter kontrollierten Bedingungen ausgehen, führen zu Angaben über das Potential für HF-Störungen bei einer Anwendung der integrierten Schaltung. Der anwendbare Frequenzbereich ist in jedem Teil von IEC 61967 beschrieben.

Beginn

2024-12-18

Geplante Dokumentnummer

DIN EN IEC 61967-1

Projektnummer

02232800

Zuständiges nationales Arbeitsgremium

DKE/K 631 - Halbleiterbauelemente