Projekt

Messmethode für thermische Auslegung bei elektronischen Baugruppen - Teil 3: Verfahren zur Temperaturmessung für miniaturisierte oberflächenmontierbare Bauelemente (SMDs) auf Leiterplatten

Kurzreferat

Dieser Teil von IEC 63609 spezifiziert das Verfahren zur Temperaturmessung unter Verwendung eines Thermoelements für oberflächenmontierbare Bauelemente (SMDs), die auf der Leiterplatte montiert sind. Dieses Dokument enthält Informationen über die Größe des Temperaturmessfehlers und den Thermoelementwiderstand, der den Messfehler verursacht.

Beginn

2024-11-19

Geplante Dokumentnummer

DIN EN IEC 63609-3

Projektnummer

02232708

Zuständiges nationales Arbeitsgremium

DKE/K 682 - Aufbau- und Verbindungstechnik für elektronische Baugruppen  

Ihr Kontakt

Daniel Failer

Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

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