Projekt
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 23: Lebensdauer bei hoher Temperatur
Kurzreferat
Dieser Test wird verwendet, um die Auswirkungen von Vorspannungsbedingungen und Temperatur auf Festkörpergeräte im Laufe der Zeit zu bestimmen. Es simuliert den Gerätebetriebszustand auf beschleunigte Weise und dient in erster Linie der Gerätequalifizierung und Zuverlässigkeitsüberwachung. Eine Form der Hochtemperatur-Bias-Lebensdauer mit kurzer Dauer, im Volksmund als „Burn-in“ bekannt, kann zum Screening auf Fehler im Zusammenhang mit der Kindersterblichkeit eingesetzt werden. Die detaillierte Verwendung und Anwendung von Burn-In liegt außerhalb des Geltungsbereichs dieser Norm
Beginn
2024-10-09
Geplante Dokumentnummer
DIN IEC 60749-23
Projektnummer
02232624
