Projekt
Supraleitfähigkeit - Teil 15: Messungen der elektronischen Charakteristik - Intrinsische Oberflächenimpedanz von Supraleiterfilmen bei Mikrowellenfrequenzen
Kurzreferat
Dieser Teil der IEC 61788 beschreibt Messungen der intrinsischen Oberflächenimpedanz (ZS) von HTS-Filmen bei Mikrowellenfrequenzen mit einem modifizierten dielektrischen Resonatorverfahren mit zwei Resonanzmoden. Ziel der Messung ist es, die Temperaturabhängigkeit der intrinsischen ZS bei der Resonanzfrequenz f0 zu ermitteln.
Beginn
2024-07-17
Geplante Dokumentnummer
DIN EN IEC 61788-15
Projektnummer
02232455
