Projekt
Halbleitergeräte - Teil 14-12: Halbleitersensoren - Leistungsprüfverfahren für Gassensoren auf CMOS-Imager-Basis
Kurzreferat
Dieser Teil der IEC 60747 spezifiziert die Leistungsprüfverfahren für Gassensoren auf CMOS-Imager-Basis. Er enthält die Begriffe und Definitionen, die Prüfumgebung, das Prüfsystem, die Prüfmethode und den Prüfbericht. Dieses Dokument gilt sowohl für die Leistungsprüfung von CMOS-Gassensoren, die auf linsenloser Abbildung basieren, als auch für CMOS-Gassensoren, die auf Linsenabbildung basieren.
Beginn
2024-04-30
Geplante Dokumentnummer
DIN EN IEC 60747-14-12
Projektnummer
02232243
