Messung der komplexen Dielektrizitätskonstante für verlustarme dielektrische Substrate nach dem symmetrischen Kreisscheibenresonatorverfahren
Kurzreferat
Dieses Dokument bezieht sich auf ein Messverfahren für die komplexe Permittivität von dielektrischen Substraten bei Mikrowellen- und Millimeterwellenfrequenzen. Dieses Verfahren wurde entwickelt, um die dielektrischen Eigenschaften verlustarmer Werkstoffe zu bewerten, die in Mikrowellen- und Millimeterwellenschaltungen und -geräten verwendet werden. Es verwendet Moden höherer Ordnung eines symmetrischen Kreisscheibenresonators und ermöglicht die Messung der Bandbreite dielektrischer Substrate unter Verwendung eines einzelnen Resonators, wobei die Wirkung von Anregungsöffnungen auf der Grundlage der Modenanpassungsanalyse berücksichtigt wird.
Beginn
2024-01-24
Geplante Dokumentnummer
DIN EN IEC 63185
Projektnummer
02232050
