Kurzreferat

Dieses Dokument bezieht sich auf ein Messverfahren für die komplexe Permittivität von dielektrischen Substraten bei Mikrowellen- und Millimeterwellenfrequenzen. Dieses Verfahren wurde entwickelt, um die dielektrischen Eigenschaften verlustarmer Werkstoffe zu bewerten, die in Mikrowellen- und Millimeterwellenschaltungen und -geräten verwendet werden. Es verwendet Moden höherer Ordnung eines symmetrischen Kreisscheibenresonators und ermöglicht die Messung der Bandbreite dielektrischer Substrate unter Verwendung eines einzelnen Resonators, wobei die Wirkung von Anregungsöffnungen auf der Grundlage der Modenanpassungsanalyse berücksichtigt wird.

Beginn

2024-01-24

Geplante Dokumentnummer

DIN EN IEC 63185

Projektnummer

02232050

Zuständiges nationales Arbeitsgremium

DKE/UK 412.4 - Passive HF- und Mikrowellenbauelemente  

Vorgänger-Dokument(e)

Messung der komplexen Dielektrizitätskonstante für verlustarme dielektrische Substrate nach dem symmetrischen Kreisscheibenresonatorverfahren (IEC 63185:2020); Deutsche Fassung EN IEC 63185:2021
2022-10

Kaufen bei DIN Media