Kurzreferat

Dieses Dokument legt die Typen S1 und S2 der Software-Normale zur Verifikation der Software von Messinstrumenten fest. Es legt außerdem das Oberflächendatenformat (SDF, en: Surface Data File) der Typ S1-Software-Normale zur Kalibrierung von Messgeräten zur flächenhaften Messung der Oberflächenbeschaffenheit fest, wie sie für das Kettenglied G der Normenkette über die Oberflächenbeschaffenheit festgelegt ist. Das SDF-Format ist geeignet für flächenhafte Topographie-Messdaten, die mit einem orthogonalen Gitter (siehe ISO 14406:2010, 5.2) und äquidistanten Abtastintervallen extrahiert wurden, unabhängig vom Messprinzip. die mit einem orthogonalen Gitter (siehe ISO 14406:2010, 5.2) und äquidistanten Abtastintervallen extrahiert wurden, unabhängig vom Messprinzip. ANMERKUNG In diesem Dokument wird durchgehend der Begriff "Software-Lehre" als Ersatz für den Begriff "Software-Normal vom Typ S1" verwendet.

Beginn

2024-01-15

WI

00290266

Geplante Dokumentnummer

DIN EN ISO 25178-71

Projektnummer

15202899

Zuständiges nationales Arbeitsgremium

NA 152-03-03 AA - Oberflächen  

Zuständiges europäisches Arbeitsgremium

CEN/TC 290 - Geometrische Produktspezifikationen und -prüfung  

Zuständiges internationales Arbeitsgremium

ISO/TC 213/WG 16 - Flächen- und profilhafte Oberflächenbeschreibung  

Vorgänger-Dokument(e)

Geometrische Produktspezifikation (GPS) - Oberflächenbeschaffenheit: Flächenhaft - Teil 71: Software-Normale (ISO 25178-71:2017); Deutsche Fassung EN ISO 25178-71:2017
2018-01

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