Projekt
Chemischer Oberflächenanalyse - Regelwerke für die automatische Extraktion von Informationen aus dem Röntgenphotoelektronenspektroskopie-Übersichtsspektrum - Identifikation und Verwendung signifikanter Nebenmerkmale im XPS-Übersichtsspektrum
Beginn
2024-01-09
Geplante Dokumentnummer
ISO/AWI 24689
Zuständiges nationales Arbeitsgremium
NA 062-08-16 AA - Chemische Oberflächenanalyse und Rastersondenmikroskopie
