Projekt
Totalreflektions-Röntgenfluoreszenz-Analyse (TXRF) – Allgemeine Grundlagen und Begriffe
Beginn
2022-06-08
Geplante Dokumentnummer
ISO/CD 16666
Zuständiges nationales Arbeitsgremium
NA 062-08-16 AA - Chemische Oberflächenanalyse und Rastersondenmikroskopie
