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Projekt

Surface chemical analysis--Scanning probe microscopy--Guidelines for the method and procedure for determining the effect of temperature on AFM nano-scale dimension measurements

Beginn

2022-12-19

Geplante Dokumentnummer

ISO/CD 4508

Zuständiges nationales Arbeitsgremium

NA 062-08-16 AA - Chemische Oberflächenanalyse und Rastersondenmikroskopie  

Zuständiges internationales Arbeitsgremium

ISO/TC 201/SC 9/WG 8 - Auswirkungen der Temperatrur auf dimensionale Rasterkraftmikroskopmessungen  

Ihr Kontakt

Steffen Jenkel

Am DIN-Platz, Burggrafenstr. 6
10787 Berlin

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