Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 20-1: Handhabung, Verpackung, Kennzeichnung und Transport oberflächenmontierbarer Bauelemente, die empfindlich gegen die Kombination von Feuchte und Lötwärme sind (IEC 47/2488/CDV:2018); Deutsche und Englische Fassung prEN IEC 60749-20-1:2018
Kurzreferat
Dieser Teil der Reihe DIN EN 60749 ist für alle Bauelemente anzuwenden, welche in einem Reflow-Lötverfahren bei der Leiterplattenmontage beansprucht werden, einschließlich mit Plastik umschlossener Gehäuse, Bauelemente, die im Prozess oder auf Feuchte empfindlich sind und die der Umgebungsatmosphäre ausgesetzt werden. Es werden genormte Verfahren für die Handhabung, Verpackung und den Versand sowie die Nutzung von feuchte- bzw. reflowempfindlichen oberflächenmontierbaren Bauelementen (SMD) bereitgestellt, die entsprechend den in IEC 60749-20 definierten Pegeln klassifiziert sind.
Beginn
2018-07-30
Geplante Dokumentnummer
DIN EN IEC 60749-20-1
Projektnummer
02228404
Zuständiges nationales Arbeitsgremium
DKE/K 631 - Halbleiterbauelemente
Ersatzvermerk
Vorgesehen als Ersatz für DIN EN 60749-20-1:2009-10
Norm-Entwurf
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 20-1: Handhabung, Verpackung, Kennzeichnung und Transport oberflächenmontierbarer Bauelemente, die empfindlich gegen die Kombination von Feuchte und Lötwärme sind (IEC 47/2488/CDV:2018); Deutsche und Englische Fassung prEN IEC 60749-20-1:2018
2018-11
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