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Projekt

Röntgenspektralanalyse - Röntgenemissions- und Röntgenfluoreszenz-Analyse (RFA) - Teil 1: Allgemeine Begriffe; Text Deutsch und Englisch

Kurzreferat

Dieses Dokument stellt allgemeine Begriffe und Grundlagen für die Röntgenfluoreszenzanalyse von festen und flüssigen Materialien zur Verfügung. In diesem Dokument sind Grundlagen und Begriffe zur Planung von Analysen, zur Probenvorbereitung, zur Kalibrierung/Auswertung und zur Betrachtung von Messunsicherheiten nicht enthalten. Diese werden gesondert in DIN 51418‑2 behandelt. Die Röntgenfluoreszenzanalyse ist eine analytische Methode zur Identifizierung der in einer Substanz enthaltenen chemischen Elemente und zur Bestimmung von deren Menge bzw. zur Bestimmung der Dicke von Schichten. Zu diesem Zweck wird die Substanz zur Aussendung elementspezifischer Strahlung angeregt, deren spektrale Zusammensetzung diese Informationen enthält. Ziel dieses Dokuments ist es, die Verwendung von Fachbegriffen für die Röntgenfluoreszenzanalyse zu vereinheitlichen und auch, so weit wie möglich, deren Übereinstimmung mit den verschiedenen Gebieten der optischen Atomspektralanalyse: Optische Emissionsspektralanalyse (OES), Atomabsorptionsspektralanalyse (AAS) und Atomfluoreszenzspektralanalyse (AFS) zu erreichen. Die Gliederung dieses Dokuments folgt dem Prinzip einer "optischen Bank": Röntgenstrahlungsversorgung, primäre Röntgenoptik, physikalische Wechselwirkung der Röntgenstrahlung, Probenstrahlung, sekundäre Röntgenoptik, Messung der Probenstrahlung und Ergebnisse des Messvorgangs.

Beginn

2024-02-02

Geplante Dokumentnummer

DIN 51418-1

Projektnummer

06235395

Zuständiges nationales Arbeitsgremium

NA 062-08-15 AA - Grundlagen der analytischen Atomspektroskopie  

Ersatzvermerk

Vorgesehen als Ersatz für DIN 51418-1:2008-08

Norm-Entwurf

Röntgenspektralanalyse - Röntgenemissions- und Röntgenfluoreszenz-Analyse (RFA) - Teil 1: Allgemeine Begriffe; Text Deutsch und Englisch
2024-08
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Vorgänger-Dokument(e)

Röntgenspektralanalyse - Röntgenemissions- und Röntgenfluoreszenz-Analyse (RFA) - Teil 1: Allgemeine Begriffe und Grundlagen
2008-08

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Steffen Jenkel

Am DIN-Platz, Burggrafenstr. 6
10787 Berlin

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