Projekt
Kalibrierung von Messgeräten für die Wellenlänge/optische Frequenz - Teil 2: Michelson- Interferometer-Einzelwellenlängen-Messgerät
Beginn
2008-07-25
Geplante Dokumentnummer
IEC 86/395/FDIS
2008-07-25
IEC 86/395/FDIS