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Norm [AKTUELL]

OEVE/OENORM EN 60749-35
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 35: Ultraschallmikroskopie für kunststoffverkappte Bauelemente der Elektronik (IEC 60749-35:2006)

Titel (englisch)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 35: Acoustic microscopy for plastic encapsulated electronic components (IEC 60749-35:2006)

Ausgabe 2007-04-01

Originalsprache Deutsch

Preis ab 130,61 €

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