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Norm [AKTUELL]

OEVE/OENORM EN 62373
Stabilitätsprüfung unter Temperatur-Spannungs-Beanspruchung für Feldeffekttransistoren mit Metalloxid-Halbleiter (MOSFET) (IEC 62373:2006)

Titel (englisch)

Bias-temperature stability test for metal-oxide, semiconductor, field-effect transistors (MOSFET) (IEC 62373:2006)

Ausgabe 2007-03-01

Originalsprache Deutsch

Preis ab 100,28 €

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