Norm
[AKTUELL]
DIN 58172-1
DIN 58172-1
Prüfung von optischen Systemen - Teil 1: Symmetrieabweichungen
Titel (englisch)
Testing of optical systems - Part 1: Deviations from symmetry
Änderungsvermerk
Gegenüber DIN 58172-1:1982 10 wurden folgende Änderungen vorgenommen: a) Abschnitt 3 der Ausgabe 1982 (Bezeichnung des Verfahrens) wurde ersatzlos gestrichen; b) Abschnitt 4 der Ausgabe 1982 (Systeme mit ausgedehntem Bildfeld) wurde an DIN ISO 9334 und DIN ISO 9335 angepasst; c) Beschreibung des Interferometers und der interferometrischen Messung wurde gestrichen bzw. durch Verweisung auf ISO 14999-4 ersetzt.
