Norm
[AKTUELL]
NF C96-022-35
; NF EN 60749-35:2006-12-01
NF C96-022-35
; NF EN 60749-35:2006-12-01
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 35: Ultraschallmikroskopie für kunststoffverkappte Bauelemente der Elektronik
Titel (englisch)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 35: acoustic microscopy for plastic encapsulated electronic components
